NFC Inline 在線性能測(cè)試儀
- 類別：NFC測(cè)試系統(tǒng) - 品牌：唐領(lǐng)科技
CISC NFC Xplorer Inline是生產(chǎn)過程中對(duì) NFC Inlay和標(biāo)簽進(jìn)行高速品質(zhì)保證測(cè)試的設(shè)備。它在生產(chǎn)過程中從頭到尾為產(chǎn)品提供質(zhì)量保證，包括性能測(cè)試和編碼。NFC Xplorer Inline可使用自帶GUI，也可通過串行接口、觸發(fā)口和 API 完全集成到裝配設(shè)備中。
在創(chuàng)建自己的性能矩陣時(shí)更具靈活性
更好的分析，同時(shí)節(jié)省時(shí)間和成本
高速測(cè)試13.56 MHz 的性能（> 100k UPH）
提高產(chǎn)品的整體質(zhì)量管理水平
生產(chǎn)中全面品質(zhì)保證
支持各種 NFC 標(biāo)簽類型
支持安全性、加密（SAM，TAM）
變化的H-field場(chǎng)強(qiáng)
提供了一個(gè)完整的解決方案包括支持Class 1-6標(biāo)簽
用于編碼和個(gè)性化的讀/寫模式
測(cè)試標(biāo)簽操作場(chǎng)強(qiáng)范圍
用于外部出發(fā)的GPIO
用于通信的串行接口
支持標(biāo)準(zhǔn)：
ISO/IEC 14443A and B
ISO/IEC 15693
